??? X射线荧光光谱是根据Moseley定律，任何特征辐射(例如 K, L, M等)的波长与元素原子序数的平方成反比。这些波长已经可以从资料里查到。通过测量特征X射线辐射的波长，可以推断出来自于哪一个元素。

??? 在WDXRF谱仪，来自样品表面的多色光束到达晶体后，根据Bragg定律,分光晶体将其转换成单色光束。根据晶体参数和衍射角计算测量谱线的波长。因此有必要选择适当的晶体来覆盖所要分析的波长。

??? 同时式WDXRF谱仪，对应某元素在固定的角度放置有一个或多个探测器，因此同时测量不同的元素。